筱曉光子研發配合著高輸出功率和高信噪比,MP-710在光學測試方面具有突出的表現。為降低ASE光噪音采用獨特的外部共振腔設計使信噪比高達90dB/0.1nm以上,同時仍保持+10dBm的高輸出功率。MP-710還具有精確調節和相干控制特性。配有標準SCPI命令集的GPIB接口適用于遠程控制和自動處理。
MP-710在測試高隔離度器件時,由于具有高輸出光功率及高的信噪比的特性,即使分出多路光也能測試出器件的更多細節,尤其對于DWDM (密集型波分復用)和WSS (光開關)這樣的下一代部件的測試評價領域MP-710都是佳的選擇。MP-710具有急好的波長特性,+/-2pm的高波長精確度、0.1pm的高波長分辨率和<100kHz的窄線寬。MP-710覆蓋160nm的可調諧范圍,和之前的儀器相比,MP-710提高掃描重復率用于提高產出測試流量。小于100kHz的窄線寬使得MP-710無論是作為相干傳輸的本機振蕩器,還是干涉測試和傳感器應用都能夠勝任。通過使用我們的專用軟件,MP-710也可以應用于WDL和PDL的測量。請致電或郵件詢問([email protected])
■ 寬波長可調諧范圍1480-1640nm
■ 高波長精度 +/-2pm
■ 波長分辨率 0.1pm
■ 高輸出功率 +10dBm
■ 高信噪比 90dB/0.1nm
■ 窄線寬 100kHz
■ 掃頻測試系統屬性-配合相關儀器使用時可對光模塊等被測器件實現高速/高精度的測量
種類 |
項目參數 |
單位 |
性能 |
|
高輸出&低矂音 |
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波長特性 |
波長調諧范圍 |
nm |
1480-1640 (160) |
|
分辨率 |
pm |
0.1 |
||
絕對精度*1 |
工作保證溫度 |
pm |
±2 |
|
25土1℃ (典型值) |
pm |
±1 |
||
重復性*1 |
pm |
±1 |
||
穩定性*2 |
pm |
±1 |
||
掃描速度 |
nm/sec |
0.5—100 |
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輸出功率特性 |
輸出功率 |
峰值(典型值) |
dBm |
≥+ 10 |
全波長調諧范圍 |
dBm |
≥+5 |
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重復性*1,*3 |
dB |
±0.01 |
||
穩定性*2, *3 |
dB |
±0.01 |
||
輸出平坦度和波長的比*1, *3 |
dB |
±0.2 |
||
相對強度噪聲(典型值) |
dB/Hz |
-145 *6 |
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光譜 |
線寬(典型值) |
相干控制關 |
kHz |
100 |
相干控制開 |
MHz |
40 |
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SMSR (典型值) |
dB |
≥45 |
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STSSER *4 |
dB |
≥70 |
||
SSSER *5 |
dB/nm |
≥80(90dB/0.1nm) |
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接口 |
光輸出端口 |
|
FC或SC,SPC或APC |
|
光纖 |
|
SMF或PMF |
||
通信 |
|
GP-B(IEEE 488.2),USB,RS-232C |
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功率計(可選) |
V |
0—3 |
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調制 |
低頻 |
kHz |
DC—400 (輸入電平-20V),調制深度>50%/V (典型值) |
|
高頻(可選) |
MHz |
2—100(輸入電平5Vp-p),調制深度>10%/V (典型值) |
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環境條件及其他 |
工作環境 |
溫度 |
deg |
15-35 |
濕度 |
% |
<80 (無結霜) |
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電源 |
|
AC100-240±10%,50/60 |
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額定功率 |
VA |
100 |
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尺寸(W)*(D)*(H) |
mm |
210*440*110 |
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重量 |
kg |
6.5 |
*所有為1小時預熱后的指標。適用于水吸收線以外的波長。
*1:階段模式(Step)或者波長靜止狀態下。
*2:測定時間為1小時,環境溫度變化為±0.5℃以內。
*3:自動輸出控制模式下
*4:Ratio of signal power to total spontaneous emission power(典型值,在信號波長±15nm范圍內)
*5:Ratio of signal power to maximum spontaneous emission power(典型值,在信號波長±3nm的范圍內的1nm帶寬)
*6:測試頻率范圍為 1MHz - 3GHz
高輸出功率&高信噪比
大波長范圍
MP-710可以和光功率計或者光譜分析儀相連接,用于測定波長特性。支持測試的操作軟件可快速便捷的設定測試參數。
■ Agilent 816xA/B, N774xA光功率計
■ Yokogawa AQ2200 系列光功率計
■ AQ6317x, AQ6319, AQ6370x 等光譜分析儀
■ dBm光器件光譜分析儀
■ Fiberpro CA3000光器件光譜分析儀等等
■ 光學器件測量
■ 光纖傳輸測試
■ 光子材料特性
■ 相干相關的應用
■ 光譜測量